自動化測試系統：該系統把探針臺，矢量網絡分析儀，電源，信號源等整合在一起，實現了對晶圓的自動化測試，根據map圖對芯片

                             依次進行測試。系統實現了探針臺自動扎針抬針以及自動尋找待測目標，控制電源自動上下電，控制矢量網絡分析

                             儀自動獲取測試數據以及保存測試數據等功能，系統根據芯片的指標對測試數據進行篩選，繪制出芯片性能是否合

                             格的map文件。

自動化分揀系統：該系統實現了對晶圓的自動化分揀，系統根據自動化測試系統導出的map文件，把性能合格的芯片進行自動分揀，

                             提高了分揀效率。

自動化目檢系統：該系統實現了對芯片的自動化目檢，系統通過圖像比對功能對芯片依次進行外觀檢查，篩出外觀不合格的芯片，最

                             終繪制出芯片外觀是否合格的map文件。